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介质损耗测试仪TK3580

更新时间:2023-11-13

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简要描述:
介质损耗测试仪TK3580是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗
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介质损耗测试仪TK3580

 

 

介质损耗测试仪TK3580

   的详细介绍

是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗,(tgδ)和电容容量(Cx)它淘汰了 QS 高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度快)等特点。体积小、重量轻的第二代抗干扰介质损耗测试仪。 
介质损耗测试仪主要技术指标
      1、环境温度:0 ~ 40℃(液晶屏应避免长时日照)         
      2、相对湿度:30% ~ 70% 
      3、供电电源:电压:220V±10%、频率:50±1Hz 
      4、外形尺寸:长×宽×高   500mm×300mm×400mm 
      5、重量:    约18Kg           
      6、输出功率:0.6KVA 
      7、显示分辩率:3位、4位(内部全是6位) 
      8、测量范围及输出电压选择: 
                 介质损耗(tgδ):±0.00~±999% 
                 试品电容容量(Cx)和加载电压: 
                 2.5KV档:≤300nF(300000pF)            3KV档:≤200nF(200000pF) 
                 5KV档:≤76nF(76000pF)                7.5KV档:≤34nF(34000pF) 
                 10KV档:≤20nF(20000pF) 
      9、基本测量误差: 
                 介质损耗(tgδ):1%±7个字(加载电流20uA~500mA) 
                 介质损耗(tgδ):2%±9个字(加载电流5uA~20uA) 
                 电容容量(Cx):1.5%±1.5pF

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